XTU系列X熒光光普測厚度

   XTU系列X熒光光普測厚度

  儀器簡介

XTU系列測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺度的工作也可以超過測試.

配搭微聚焦射線管和較先進的光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。  

檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·較小測量面積0.002m㎡·較深凹糟可達90mm。

外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精密0.005mm，速度10-30mm(X-Y)/圈，較小再多的樣品都沒難度，讓操作人員輕松自如。

應用領域

·線路板,引線框架及電子元器件接插件檢測

·度純金，K金，鉑，銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

·手表，精密儀表制造行業

·釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Cu/Ni/FeNdB

·汽車，五金，電子產品等緊固件的表面處理檢測

·衛浴產品，裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

·電鍍液的金屬陽離子檢測

  性能優勢

·下照式設計：可以快熟方便地定位對焦樣品。

·無損變焦檢測：可對各種異性形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

·為聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002m㎡的樣品，可測試個微小的部件。

高效率的接收器：即使測試0.01m㎡         以下的樣品，幾秒鐘也能達到**性

·精密微型滑軌：快速定位樣品

·EFP先進算法**：

多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法**

技術參數

元素分析范圍：氯（cl)~鈾（U)

厚度分析范圍：各種元素及有機物

一次性同時分析:23層鍍層，24種元素

厚度較低出限:0.005um

較小測量面積:0.002m㎡（多重準值器可選）

對焦距離:0~90mm（測試凹槽，可變焦）

樣品腔尺寸:500mm×360mm×215mm（C型設計，允許測試超出樣品腔板狀物體）

儀器尺寸:550mm×480mm×470mm

儀器重量:55㎏